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NanoMagnetics 原子力顯微鏡矽片表麵形貌測量
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NanoMagnetics 原子力顯微鏡矽片表麵形貌測量

英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡矽片表麵形貌測量
上海天天看代理的英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡矽片表麵形貌測量應用, 某高校老師通過原子力顯微鏡進行矽片表麵形貌測量和表麵粗糙度測量, 便於後續進行拉曼增強.

測試方法: 選用上海天天看英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡 ezAFM 進行測試. 將樣品放置在樣品台, 通過係統軟件自動控製.

原子力顯微鏡測試條件

原子力顯微鏡 AFM

圖像參數

品牌

英國 NanoMagnetics

原子力顯微鏡型號

ezAFM

模式

動態模式

分辨率 ( pixels )

512 x 512

懸臂類型

ACLA from App Nano

Set RMS

1.0 VRMS

Free RMS

2.0 VRMS


原子力顯微鏡 ezAFM 性能

原子力顯微鏡AFM

掃描範圍

120 x 120 x 40 μm 或 40 x 40 x 4 μm

模式

接觸模式, 動態力 / 相位成像模式, 側向力顯微鏡 LFM 和磁力顯微鏡 MFM 模式

噪聲基底

65 fm √Hz

分辨率

2μm 集成光學顯微鏡

全高清攝像機

390x230μm, 2516x1960, pixels, 30fps,

樣品尺寸

10 x 10 x 5mm ( 可配置為不限製樣品尺寸 )


矽片表麵形貌成像圖

原子力顯微鏡矽片表麵形貌成像圖
矽片表麵粗糙度成像圖

原子力顯微鏡矽片表麵粗糙度成像圖

英國 NanoMagnetics 儀器 1998年在牛津成立, 作為原子力顯微鏡 AFM 製造商, 主營環境掃描探針顯微鏡 SPM, 低溫掃描探針顯微鏡 LT-SPM, 霍爾效應測量係統等, 原子力顯微鏡適用於產品表麵特征分析, 生命科學, 原位成像, 材料科學, 薄膜等領域.廣泛應用於牛津大學, 斯坦福, 京都大學, NASA 等學府和科研院所.
 

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